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設(shè)計(jì)出內(nèi)部安裝有鏡面的新型光學(xué)系統(tǒng)
一般通過延長受光部分與受光元件(CMOS)之間的光路長度，從而可獲得精度更高、更穩(wěn)定的測量值，但是另一方面，傳感器的進(jìn)深方向會變長，機(jī)身形狀也會變大。HG-C系列設(shè)計(jì)出內(nèi)部安裝有反射鏡的新型光學(xué)系統(tǒng)，并縮短進(jìn)深方向的尺寸，同時(shí)又可實(shí)現(xiàn)與變位傳感器相媲美的高精度測量。

采用鋁鑄外殼，使機(jī)身免受變形和溫度的困擾
采用同時(shí)兼顧輕量與強(qiáng)度的鋁鑄外殼。雖然尺寸小巧，但是機(jī)身堅(jiān)固，從而減少外殼變形和溫度等不穩(wěn)定因素對測量精度所產(chǎn)生的影響。

針對與檢測物體基準(zhǔn)面之間的距離，設(shè)置上限值和下限值，想要通過上下限的范圍 進(jìn)行判別時(shí)，使用該方式。

執(zhí)行2點(diǎn)教導(dǎo)，設(shè)定基準(zhǔn)值范圍。

執(zhí)行3點(diǎn)(檢測物體A、B、C)教導(dǎo)時(shí)，教導(dǎo)值將會自動按照升序(教導(dǎo)值1、2、3)重新排列數(shù)值，在教導(dǎo)值1與教導(dǎo)值2之間設(shè)定基準(zhǔn)值，并在教導(dǎo)值2與教導(dǎo)值3之間設(shè)定基準(zhǔn)值，從而設(shè)定基準(zhǔn)值范圍。

除教導(dǎo)&窗口比較模式外，還配備有[上升沿微分模式]、[下降沿微分模式]以及[通常檢測模式]。 在通常檢測模式下，可使用基本教導(dǎo)方法中的“2點(diǎn)教導(dǎo)”，存在微小物體和背景物體的情況下， 還可使用便捷的[限位教導(dǎo)]。

OFF延遲定時(shí)器
<功能> 使輸出信號延遲5ms。
<用途> 連接機(jī)器的響應(yīng)速度較慢，檢測時(shí)間無法滿足其要求時(shí)，宜使用該設(shè)定。

ON延遲定時(shí)器
<功能> 從檢測時(shí)開始，使5ms內(nèi)的輸出信號無效。
<用途> 想要使短時(shí)間信號無效的情況下，以及需要利用時(shí)間差進(jìn)行控制的情況下，可方便地使用該設(shè)定。

單觸式定時(shí)器
<功能>從檢測時(shí)開始，僅在5ms內(nèi)發(fā)送輸出信號。
<用途> 根據(jù)連接機(jī)器的輸入條件，信號時(shí)間必須保持恒定時(shí)，宜使用該設(shè)定。另外，想要使短時(shí)間的信號延長至必要的時(shí)間寬度時(shí)，也可有效使用該設(shè)定。